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產(chǎn)品簡介
UV-340紫外輻照計(jì)紫外光源測試，采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
產(chǎn)品分類
UV-340紫外輻照計(jì)紫外光源測試
UV-340紫外輻照計(jì)紫外光源測試產(chǎn)品介紹
UV-340型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù)，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測器經(jīng)過嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。
性能特點(diǎn)
1、光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正
2、數(shù)字液晶顯示，帶背光
3、手動/自動量程切換
4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）
5、低電量提醒
6、自動延時(shí)關(guān)機(jī)
7、有數(shù)字保持
8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示
技術(shù)參數(shù)
項(xiàng)目 | 參數(shù) |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （315～370）nm，λP＝340nm |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
紫外帶外區(qū)雜光 | UV254<0.1%，UV297<0.05% |
零值誤差（滿量程FS） | <滿量程的±1.0% |
長波響應(yīng)誤差 | <15% |
余弦特性（方向性響應(yīng)）誤差 | <10% |
非線性誤差 | <±1.5% |
換檔誤差 | ±1% |
疲勞誤差 | <3.0% |
相對示值誤差 | <±8.0％（相對于NIM標(biāo)準(zhǔn)） |
響應(yīng)時(shí)間 | <1秒 |
使用環(huán)境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
整機(jī)功耗 | ＜0.1VA |
配置 | 主機(jī)、340探頭、探頭蓋、數(shù)據(jù)線、說明書、合格證、9V電池等 |
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