UV-340紫外輻照計紫外光源測試

產(chǎn)品簡介
UV-340紫外輻照計紫外光源測試，采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

產(chǎn)品型號：

更新時間：2025-10-22

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

UV-340紫外輻照計紫外光源測試

UV-340紫外輻照計紫外光源測試

UV-340紫外輻照計紫外光源測試產(chǎn)品介紹

UV-340型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

性能特點

1、光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

2、數(shù)字液晶顯示，帶背光

3、手動/自動量程切換

4、數(shù)字輸出接口（USB,冗余供電）

5、低電量提醒

6、自動延時關機

7、有數(shù)字保持

8、輕觸按鍵操作，蜂鳴提示

技術參數(shù)

項目	參數(shù)
波長范圍λ1，峰值波長λp	（315～370）nm，λP＝340nm
輻照度測量范圍	(0.1～199.9×10³) μW/cm²
紫外帶外區(qū)雜光	UV254<0.1%，UV297<0.05%
零值誤差（滿量程FS）	<滿量程的±1.0%
長波響應誤差	<15%
余弦特性（方向性響應）誤差	<10%
非線性誤差	<±1.5%
換檔誤差	±1%
疲勞誤差	<3.0%
相對示值誤差	<±8.0％（相對于NIM標準）
響應時間	<1秒
使用環(huán)境	溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH
尺寸和重量	160mm×78mm×43mm；0.2kg
電源	6F22型9V積層電池（非充電電池）
整機功耗	＜0.1VA
配置	主機、340探頭、探頭蓋、數(shù)據(jù)線、說明書、合格證、9V電池等